中考數(shù)學(xué)知識(shí)點(diǎn)：函數(shù)與分析考點(diǎn)（二）

　　考點(diǎn)41：畫(huà)正比例函數(shù)、反比例函數(shù)、一次函數(shù)、二次函數(shù)的圖像

 

　　考核要求：(1)知道函數(shù)圖像的意義，會(huì)在平面直角坐標(biāo)系中用描點(diǎn)法畫(huà)函數(shù)圖像；（2）理解正比例函數(shù)、反比例函數(shù)的圖像，體會(huì)數(shù)形結(jié)合思想；（3）會(huì)畫(huà)一次函數(shù)的圖像，會(huì)畫(huà)二次函數(shù)的大致圖像.

 

　　考點(diǎn)42：正比例函數(shù)、反比例函數(shù)、一次函數(shù)、二次函數(shù)的圖像及其基本性質(zhì)

 

　　考核要求：（1）借助圖像的直觀，認(rèn)識(shí)正比例函數(shù)、反比例函數(shù)的性質(zhì)，能用數(shù)學(xué)語(yǔ)言進(jìn)行表達(dá)，并掌握這些基本性質(zhì)；（2）借助圖像的直觀、認(rèn)識(shí)和掌握一次函數(shù)的性質(zhì)，建立一次函數(shù)、二元一次方程、直線之間的聯(lián)系；（3）掌握直線平移與一次函數(shù)解析式中的之間的關(guān)系，從中感知辯證的觀點(diǎn)，進(jìn)一步體會(huì)數(shù)形結(jié)合的思想；（4）略；（5）會(huì)用配方法求二次函數(shù)的頂點(diǎn)坐標(biāo)，并說(shuō)出二次函數(shù)的有關(guān)性質(zhì).

 

　　注意：（1）解題時(shí)要數(shù)形結(jié)合；（2）二次函數(shù)的平移要化成頂點(diǎn)式.

 

　　考點(diǎn)43：一次函數(shù)的應(yīng)用

 

　　考核要求：(1)選取實(shí)例討論一次函數(shù)的實(shí)際應(yīng)用；（2）初步認(rèn)識(shí)函數(shù)模型.注意正確從圖形、實(shí)際問(wèn)題中提取相關(guān)解題的信息.